分光分析の可能性を広げる、スペクトラ・コープはCarl Zeiss社製分光器の日本代理店です。

膜厚測定装置 Handy Lambda Ⅲ Thickness / Solid Lambda Thickness

光干渉方式による膜厚測定装置です。透明または半透明の膜に適しています。光を膜に照射し、その光のスペクトル情報から膜厚を算出するので、非接触でサンプルを傷付けず、再現性良く測定する方法として注目されています。
反射測定にも透過測定にも対応しています。
光ファイバーでサンプルを照射するので、場所を選ばず、インライン使用も可能になりました。
アクチュエータとの併用で、簡単なマッピング膜厚測定も実現します。

製品画像

測定可能サンプル例

  • フィルム
  • シリコン、窒化シリコン、酸化シリコン
  • 接着剤、コーティング剤
  • 色素膜、油膜、カラーフィルター膜
  • 空気層
  • フォトレジスト
  • 酸化チタン
  • 誘電体膜、金属酸化膜
  • UV硬化樹脂
  • ガリウム砒素
  • CD、MD、DVD
  • ポリマー

測定不可能サンプル例

  • 塗装膜
  • 金属膜
  • 木材
  • その他不透明な膜
測定物の見た目だけではわからないこともあります。デモ測定で測定の可否からご相談伺います。

装置構成

光源、分光装置と、ファイバー・プローブ部分からなります。使用する分光器によって、Handy Lambda Ⅲ ThicknessとSolid Lambda Thicknessの型式がありますが、お客様の要望に合わせてカスタマイズできますので、サンプルの材質や形状だけでなく検査室などでの手動測定からインライン測定まで対応します。
膜厚測定専用ソフトウェアも付属します。

各モデル製品仕様

モデル Handy Lambda Ⅲ Thickness Solid Lambda Thickness
測定膜厚範囲 50nm-20μm 50nm-100μm
膜厚表示分解能 0.001μm 0.001μm
測定再現性 0.01μm以下 0.01μm以下
インターフェース USB2.0 USB2.0
本体価格 open price open price

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